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和伍超聲掃描顯微鏡 設(shè)備整機(jī)尺寸750mm（長(zhǎng)）×700mm（寬）×1350mm（高）。安裝方案基于空間占用最小化和維護(hù)/服務(wù)條件需要，保證在設(shè)備周?chē)粲?00mm的空間，可以方便工作人員進(jìn)行操作、維護(hù)。

和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類(lèi)半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀(guān)展示。在掃描過(guò)程中，不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，不會(huì)影響樣品性能，可有效滿(mǎn)足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。

日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀(guān)察和分析。

日本電子掃描電鏡 日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性?xún)r(jià)比高的掃描電子顯微鏡。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強(qiáng)大的“Zeromag“功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀(guān)察方式，輕松的無(wú)縫接軌到掃描電鏡的影像觀(guān)察?！癓ive Analysis“則實(shí)現(xiàn)了SEM影像觀(guān)察時(shí)實(shí)時(shí)的EDS成份分析。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀(guān)察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱(chēng)。懸臂和樣品始終保持接觸，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態(tài)下，掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式，可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動(dòng)。在懸臂震動(dòng)的狀態(tài)下懸臂接近樣品時(shí)振幅會(huì)發(fā)生變化。